MVP dévoilera la plateforme Aurora pour l’inspection SMT & microélectronique à IPC APEX EXPO 2025

Machine Vision Products, Inc. présentera des capacités innovantes d’inspection SMT et microélectronique sur la plateforme Aurora lors de l’IPC Apex Expo 2025

Vista, Californie – 17 mars 2025 – Machine Vision Products, Inc. (MVP), leader mondial des technologies avancées d’imagerie et d’inspection, présentera ses dernières plateformes d’inspection à l’IPC Apex Expo à Anaheim, Californie, du 18 au 20 mars au stand 1342.

Machine Vision Products (MVP) est ravi de présenter ses dernières solutions SMT et microélectroniques avec le nouveau système d’inspection optique automatisée Aurora. MVP dévoilera son nouveau logiciel intégrant des algorithmes basés sur la métrologie, offrant une meilleure détection des défauts tout en améliorant le rendement de production. De plus, MVP présentera son intégration révolutionnaire d’outils d’IA et de Deep Learning, désormais disponible sur toutes les plateformes. En tant que leader mondial des solutions d’inspection, MVP continue de repousser les limites technologiques.

Présentation de la plateforme Aurora à l’APEX 2025

À l’APEX 2025, MVP présentera le système Aurora, offrant une inspection AOI double face complète pour les applications de packaging, de SMT et de microélectronique, notamment :

• Assemblages SMT double face

• Ball Grid Arrays (BGA)

• Plastic Leaded Chip Carrier (PLCC)

Propulsée par les plus récents algorithmes basés sur la métrologie et le Deep Learning, la plateforme Aurora améliore la précision de détection des défauts et augmente les rendements de production, établissant une nouvelle référence en matière de précision, d’efficacité et de flexibilité dans l’inspection optique automatisée. Conçue pour l’inspection double face, elle prend en charge une large gamme de composants, notamment SMT double face, BGAs, PLCCs, CSPs, WLPs, QFNs, BCCs, LGAs, etc.

Avec plus de 30 ans d’innovation en AOI, Aurora combine une optique télécentrique haute résolution pour l’inspection supérieure et une technologie 3D sans ombre pour l’inspection inférieure, garantissant des mesures précises de coplanarité et de position. Pour les applications de packaging, la méthodologie Pick-Inspect-Sort optimise l’efficacité en conservant uniquement les dispositifs conformes et en rejetant automatiquement les composants défectueux.

Outils d’IA : une nouvelle référence en performance d’inspection

S’appuyant sur des années d’expertise en logiciels d’apprentissage automatisé, MVP inaugure une nouvelle ère d’intégration de l’IA. Avec de nombreux outils d’IA intégrés dans toutes ses plateformes, MVP atteint des niveaux inégalés de performance d’inspection et de simplicité d’utilisation — même pour les défis les plus complexes.

MVP offre également une plateforme ouverte pour intégrer des outils d’IA et de Deep Learning tiers, offrant une flexibilité maximale aux utilisateurs.

Solutions avancées de traçabilité

MVP propose des solutions avancées de traçabilité grâce à l’intégration des données, reliant informations d’importation, d’exportation et images. L’intégration AutoData SQL fournit un suivi en temps réel et une option de stockage d’images pour une analyse approfondie des défauts et un contrôle qualité renforcé. Les plateformes MVP prennent en charge l’Industrie 4.0 avec SECS/GEM, SEMI E142, les End Lot Summary Reports (ELSR) et d’autres modules.

À propos de Machine Vision Products, Inc.

Machine Vision Products, Inc. est un fournisseur leader de solutions avancées d’imagerie et d’inspection pour la microélectronique, les assemblages hybrides, le packaging et la technologie SMT. MVP propose des solutions de pointe aux secteurs commercial et militaire et dispose d’opérations aux États-Unis, en Chine, en Malaisie et au Royaume-Uni, ainsi que de représentations en Amérique du Nord, en Europe et en Asie.