MVP presenta el nuevo sistema Carta, que ofrece capacidades avanzadas de inspección y metrología para fabricantes de obleas, obleas troceadas y obleas con bumps
Vista, California — 17 de noviembre de 2025 — Machine Vision Products, Inc. (MVP), líder mundial en soluciones de Inspección Óptica Automatizada (AOI), presentará su más reciente innovación, el MVP Carta, en Productronica 2025 en Múnich, Hall B2, Stand 112. El sistema Carta amplía el portafolio de soluciones de MVP para semiconductores, ofreciendo inspección de nueva generación para obleas sólidas, obleas troceadas en film-frame y obleas con bumps, para tamaños de hasta 300 mm.
La plataforma Carta está disponible en dos configuraciones.
La versión semiautomática está diseñada para laboratorios de I+D, líneas piloto y entornos de desarrollo flexibles, y soporta obleas sólidas y film frames con una carga manual rápida.
La versión totalmente automatizada está diseñada para fabricación de alto volumen e incorpora un módulo avanzado de manipulación robótica y alineación para carga automatizada. También se pueden integrar formatos adicionales de manipulación de obleas estándar en la industria, garantizando una integración fluida en flujos de trabajo automatizados en salas limpias.
En el núcleo del sistema Carta se encuentra una arquitectura óptica de doble cámara, que incluye un microscopio de alta resolución y una cámara infrarroja (IR) opcional para mejorar la detección de defectos, incluidos defectos enterrados o de bajo contraste. Combinado con metrología 3D, iluminación multimodal y algoritmos de inspección impulsados por IA, Carta ofrece una identificación precisa de contaminación, delaminación, grietas superficiales y de borde, defectos a nivel de dado, material extraño, así como inspección de bumps opcional para aplicaciones de advanced packaging.
“El MVP Carta representa el siguiente paso en nuestro compromiso con los clientes de semiconductores que buscan un mayor control de proceso y una mayor fiabilidad en la inspección de obleas y dados”, afirmó el Dr. George Ayoub, Presidente y CEO de Machine Vision Products. “Combina la tecnología AOI probada de MVP con automatización mejorada y metrología avanzada para satisfacer los requisitos más exigentes de la industria”.
El sistema Carta complementa la creciente gama de plataformas AOI 3D de MVP para semiconductores, advanced packaging, microelectrónica y fabricación SMT, reforzando la misión de la empresa de Build in Quality for the Technology of Tomorrow.
Acerca de Machine Vision Products, Inc.
Machine Vision Products, Inc. (MVP) es un líder global en soluciones de Inspección Óptica Automatizada para los sectores de semiconductores, advanced packaging, microelectrónica y fabricación SMT. Fundada en 1993 y con sede en Vista, California, MVP ofrece plataformas de inspección 2D y 3D de alto rendimiento diseñadas para satisfacer los requisitos más exigentes de calidad, precisión y control de procesos.
Con un fuerte compromiso con la innovación, el portafolio tecnológico de MVP abarca detección de defectos mediante IA, metrología avanzada, automatización flexible e integración totalmente compatible con SEMI.
MVP ofrece soporte global a través de equipos dedicados en Norteamérica, Europa y Asia, garantizando los más altos niveles de servicio, respuesta y experiencia en aplicaciones.
