MVP presentará múltiples tecnologías de sensores AOI y software avanzado en IPC APEX Expo 2016

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diciembre 9, 2025

On marzo 11, 2016

Carlsbad, CA – 11 de marzo de 2016. Machine Vision Products (MVP), un líder en Inspección Óptica Automatizada (AOI), demostrará AOI portátil, AOI 3D y productos avanzados de software en la IPC APEX EXPO 2015 en el Centro de Convenciones de Las Vegas del 15 al 17 de marzo. MVP exhibirá en el stand #2100.

MVP es un líder reconocido en tecnología AOI con una amplia gama de soluciones avanzadas entregadas a clientes de SMT, microelectrónica y empaquetado. MVP continúa manteniendo sus operaciones de diseño innovador, desarrollo y fabricación en su sede corporativa en Carlsbad, California. Todos los sistemas de MVP se fabrican en los Estados Unidos.

MVP continúa introduciendo soluciones AOI avanzadas, y la IPC APEX EXPO 2015 mostrará las últimas tecnologías de MVP para AOI portátil, AOI 3D y soluciones avanzadas de software.

Tecnologías de sensores múltiples

MVP demostrará su verdadera flexibilidad en toda su gama de productos AOI para SMT y microelectrónica. Todas las soluciones AOI de MVP son capaces de incorporar diferentes tecnologías de sensores según los criterios de inspección del cliente.

En IPC Apex 2016, las soluciones AOI de MVP demostrarán cámaras AOI de 12 MP capaces de inspección 01005; AOI 3D para la inspección de dispositivos complejos, y tecnología láser 3D para inspección de pasta. Todas las resoluciones de sensores de MVP son escalables desde 10 µm hasta 1 µm para SMT y microelectrónica.

AOI de 12 megapíxeles

MVP demostrará su capacidad AOI de 12 MP de alta velocidad en IPC APEX. Con una velocidad de cuadro superior, la tecnología de 12 MP ofrece una resolución de píxel de 10 µm, certificada para inspección 01005.

La gama de soluciones SMT de MVP se define por su alto rendimiento y alta velocidad. Con la introducción de nuevas cámaras de color de mayor resolución, MVP mejora su gama de productos con capacidades de inspección aún más rápidas, manteniendo su robusto rendimiento de detección de defectos mientras reduce los falsos positivos a cero.

Presentación del GEM III

El GEM III es una plataforma AOI portátil, muy robusta y rica en funciones, basada en las soluciones AOI de alto rendimiento existentes de Machine Vision Products. El GEM III incorpora una cámara de 8 MP y está completamente certificado para inspección 01005 con un tamaño de píxel de 8 micras.

El GEM III presenta la programación de base de datos guiada por asistente ePro de MVP y el asistente Auto-Optimize, y es una solución rentable pero potente para entornos de baja producción y alta mezcla, incluidos entornos de introducción de nuevos productos (NPI). Al utilizar la misma óptica que los sistemas AOI en línea, los nuevos programas de inspección son totalmente portátiles entre el GEM III y la gama de soluciones en línea de MVP.

AOI 3D

MVP demostrará AOI 3D configurada para una plataforma portátil en el GEM III en IPC APEX 2016.

El enfoque de MVP hacia AOI 3D utiliza la combinación de tecnologías AOI 2D y 3D, brindando las ventajas de alta velocidad y una cobertura superior de defectos para defectos complejos. Las herramientas de software avanzadas de MVP son clave para aprovechar al máximo cada sensor. Combinadas con las herramientas de facilidad de uso ePro y Validate de MVP, ahora es posible lograr los niveles más altos de cobertura de defectos con la última serie de utilidades de inspección de MVP.

La tecnología avanzada 3D es verdaderamente flexible, permitiendo a los usuarios seleccionar el uso de 3D en tipos específicos de componentes o designadores individuales, mientras se mantiene la velocidad tradicional de operación.

MVP ha introducido recientemente una nueva capacidad de Defecto Definido por el Usuario (UDD) que vincula modos de falla específicos con definiciones de defectos personalizadas. En procesos calificados, el UDD puede usarse para permitir la asignación automática de defectos sin necesidad de revisar defectos individuales. MVP demostrará esta nueva y poderosa característica con el GEM III.

SPI

Para los clientes interesados en SPI, MVP demostrará su tecnología avanzada de inspección de pasta de soldadura con utilidades mejoradas de facilidad de uso que permiten a los usuarios crear bases de datos sólidas de inspección SPI 3D en cuestión de minutos.

Productos de trazabilidad y archivo de imágenes

MVP también es proveedor de soluciones de software que amplían el poder de nuestras tecnologías AOI para proporcionar opciones avanzadas de trazabilidad a nuestros clientes.

MVP demostrará su AutoNetworker, una base de datos centralizada con la flexibilidad de configurarse para una amplia variedad de opciones de análisis de datos. Para SMT y microelectrónica, tanto los datos de medición como los atributos de aprobación/fallo pueden almacenarse para cada producto, lote o orden de trabajo, y escalarse según los requisitos del cliente. Los datos pueden almacenarse según los requisitos del cliente, desde períodos cortos hasta recopilación de datos indefinida.

AutoNetworker es una herramienta valiosa diseñada para permitir a los gerentes de calidad, gerentes de operaciones e ingenieros de procesos crear rápidamente informes a través de una interfaz web accesible desde cualquier ubicación en la intranet.

Un nuevo desarrollo significativo que será demostrado por MVP es la nueva capacidad de archivo de imágenes del AutoNetworker. Al proporcionar la capacidad de guardar cada imagen de defecto detectada por múltiples máquinas AOI, MVP proporciona ahora una solución escalable para el archivo de imágenes. Para procesos críticos donde la calidad es esencial, la capacidad de proporcionar trazabilidad visual además de trazabilidad de datos es fundamental. MVP ahora ofrece esta capacidad.

DPC – Control Dinámico del Proceso

MVP también demostrará su producto Dynamic Process Control (DPC) que proporciona trazabilidad de procesos efectiva, vinculando los defectos de ensamblaje con el equipo de origen correspondiente para una resolución rápida. DPC es escalable con opciones desde gestión AOI, gestión de línea de producción, hasta control completo del taller de fabricación. El DPC completo incluye Gestión de Materiales, Gestión WIP, Gestión de Alimentadores y Gestión de Configuración, entre otras herramientas disponibles.

Descubra las aplicaciones de microelectrónica de MVP

El equipo de expertos de MVP estará disponible para discutir soluciones para la plataforma MVP 850G para aplicaciones de microelectrónica durante IPC APEX EXPO. La 850G admite la gama más amplia de aplicaciones de microelectrónica gracias a la avanzada caja de herramientas de soluciones de MVP. Con la resolución y repetibilidad como factores críticos, la 850G puede configurarse a un tamaño de píxel de 1 µm.

Para la producción electrónica híbrida, MVP está en una posición única para ofrecer tanto soluciones de microelectrónica como de SMT para el mismo ensamblaje utilizando la plataforma 850G.

Para obtener más información sobre MVP, visite www.machinevisionproducts.com o visítenos en el stand nº 2100 en IPC APEX EXPO, donde podremos analizar sus requisitos de inspección.

Contacto:

Correo electrónico: sales@visionpro.com

Teléfono: 1-800-260-4MVP o +1-760-438-1138

Acerca de Machine Vision Products, Inc.

Machine Vision Products es un innovador del mercado y líder en tecnologías de imagen para SMT, microelectrónica y tecnologías de empaquetado. MVP proporciona soluciones tanto para aplicaciones comerciales como militares. Machine Vision Products opera globalmente con operaciones directas en EE. UU., China, Malasia y el Reino Unido, además de representación adicional en Norteamérica, Europa y Asia.