MVP dévoile sa 3D AOI et logiciel inspecteur avancé à l’IPC-Apex Expo 2015
Carlsbad, CA – 20 février 2015 : Machine Vision Products (MVP), leader de l’inspection optique automatisée, présentera sa technologie 3D AOI et ses logiciels avancés au salon IPC APEX EXPO 2015, qui se tiendra au San Diego Convention Center du 24 au 26 février. MVP exposera au stand n° 427.
MVP est reconnu comme un leader en technologie AOI, offrant une large gamme de solutions avancées pour les secteurs SMT, microélectronique et packaging. MVP continue de concevoir et de fabriquer tous ses systèmes dans son siège à Carlsbad, en Californie. Tous les systèmes MVP sont fabriqués aux États-Unis.
MVP continue d’introduire des solutions AOI avancées, et l’IPC APEX EXPO 2015 présentera les dernières innovations en 3D AOI et logiciels avancés.
AOI 3D
L’approche de MVP combine technologies 2D et 3D pour offrir des avantages tels qu’une inspection haute vitesse et une excellente couverture des défauts complexes. Les outils logiciels avancés de MVP permettent d’exploiter pleinement les capacités de chaque capteur. Avec les utilitaires ePro et Validate, il est possible d’atteindre les niveaux de couverture de défauts les plus élevés.
Basé sur la plateforme Supra, le Supra 3D est la solution AOI 3D avancée de MVP, permettant la détection améliorée des défauts post-reflow, tels que les pattes relevées, jusqu’aux composants 01005.
La technologie 3D de MVP est hautement flexible, permettant d’appliquer la 3D uniquement sur certains types de composants ou désignateurs, tout en maintenant une vitesse élevée.
MVP a récemment introduit la fonctionnalité « User Defined Defect » (UDD), qui associe des modes de défaillance à des définitions personnalisées. Dans les processus qualifiés, l’UDD permet une classification automatique sans inspection manuelle.
SPI et AOI 2D
MVP présentera également la Supra E, l’AOI 2D d’entrée de gamme offrant haute performance et faible coût d’exploitation. Dotée d’une résolution de 10 µm, elle assure l’inspection certifiée 01005 au niveau des joints de soudure.
Pour les clients intéressés par le SPI, MVP démontrera sa technologie avancée d’inspection de pâte à braser, permettant de créer rapidement des bases de données 3D SPI.
Traçabilité et Archivage d’Images
MVP fournit des solutions logicielles avancées pour étendre les capacités AOI, notamment dans la traçabilité.
Le système AutoNetworker sera démontré : une base de données centralisée configurable pour diverses analyses. Les données de mesure et les résultats peuvent être enregistrés pour chaque produit et lot, avec une rétention flexible selon les besoins du client.
Une nouvelle fonctionnalité majeure est l’archivage d’images : AutoNetworker permet d’enregistrer toutes les images de défauts détectées par plusieurs systèmes AOI. Cela assure une traçabilité visuelle et analytique indispensable dans les processus critiques.
MVP présentera également son système Dynamic Process Control (DPC), qui relie les défauts aux équipements sources pour une résolution rapide. DPC est évolutif, depuis la gestion AOI jusqu’au contrôle d’atelier complet.
Applications en Microélectronique
L’équipe d’experts MVP sera disponible pour discuter de la plateforme MVP 850G, qui prend en charge la plus large gamme d’applications en microélectronique. La plateforme peut être configurée pour une résolution allant jusqu’à 1 µm, garantissant des mesures précises et répétables.
Pour les environnements hybrides, MVP est le seul fournisseur à offrir des inspections SMT et microélectroniques sur une seule plateforme 850G.
Pour plus d’informations, visitez www.machinevisionproducts.com ou le stand 427 à IPC APEX EXPO.
Contact :
Email : sales@visionpro.com
Téléphone : 1-800-260-4MVP ou +1-760-438-1138
À propos de Machine Vision Products, Inc.
MVP est un innovateur majeur dans les technologies d’imagerie pour le SMT, la microélectronique et l’emballage. MVP fournit des solutions pour les secteurs commercial et militaire, avec des opérations aux États-Unis, en Chine, en Malaisie, au Royaume-Uni et des représentations mondiales.
