MVP dévoile plusieurs technologies de capteurs AOI et des logiciels avancés à l’IPC APEX Expo 2016

Carlsbad, CA – 11 mars 2016. Machine Vision Products (MVP), un leader de l’inspection optique automatisée (AOI), présentera l’AOI portable, l’AOI 3D et des produits logiciels avancés lors de l’IPC APEX EXPO 2015 au Las Vegas Convention Center du 15 au 17 mars. MVP exposera au stand n°2100.

MVP est un leader reconnu dans la technologie AOI avec une large gamme de solutions avancées pour les clients du SMT, de la micro-électronique et du packaging. MVP continue de maintenir ses opérations de conception, développement et fabrication innovants au siège social de Carlsbad, en Californie. Tous les systèmes MVP sont fabriqués aux États-Unis.

MVP continue d’introduire des solutions AOI avancées, et l’IPC APEX EXPO 2015 présentera les dernières technologies de MVP pour l’AOI portable, l’AOI 3D et les solutions logicielles avancées.

Technologies multi-capteurs

MVP démontrera sa véritable flexibilité à travers l’ensemble de sa gamme de produits AOI pour le SMT et la micro-électronique. Toutes les solutions AOI de MVP sont capables d’intégrer différentes technologies de capteurs en fonction des critères d’inspection du client.

Lors de l’IPC Apex 2016, les solutions AOI de MVP présenteront des caméras AOI de 12 MP capables d’inspection 01005 ; de l’AOI 3D pour l’inspection de dispositifs complexes ; et une technologie laser 3D pour l’inspection de pâte. Toutes les résolutions des capteurs MVP sont évolutives de 10 µm à 1 µm pour le SMT et la micro-électronique.

AOI 12 mégapixels

MVP démontrera ses capacités AOI haute vitesse de 12 MP lors de l’IPC APEX. Avec une fréquence d’images supérieure, la technologie 12 MP fournit une résolution de pixel de 10 µm certifiée pour l’inspection 01005.

La gamme SMT de MVP est définie par ses performances élevées et sa grande vitesse. Avec l’introduction de nouvelles caméras couleur à plus haute résolution, MVP améliore sa gamme de produits avec des capacités d’inspection encore plus rapides, tout en maintenant ses performances robustes de détection des défauts et en réduisant les faux appels.

Présentation du GEM III

Le GEM III AOI est une plateforme AOI portable, robuste et riche en fonctionnalités, basée sur les solutions AOI haute performance existantes de Machine Vision Products. Le GEM III intègre une caméra de 8 MP et est entièrement certifié pour l’inspection 01005 avec une taille de pixel de 8 microns.

Le GEM III propose l’environnement de programmation ePro de MVP, guidé par assistant, ainsi que l’outil Auto-Optimize. Il constitue une solution économique mais puissante pour les environnements de production à faible volume et forte mixité, y compris l’introduction de nouveaux produits (NPI). En utilisant les mêmes optiques que les systèmes AOI en ligne, les nouveaux programmes d’inspection sont totalement portables entre le GEM III et la gamme en ligne de MVP.

AOI 3D

MVP présentera l’AOI 3D configurée sur une plateforme portable GEM III lors de l’IPC APEX 2016.

L’approche de MVP pour l’AOI 3D utilise une combinaison de technologies AOI 2D et 3D, apportant les avantages de la haute vitesse et d’une couverture supérieure des défauts complexes. Les outils logiciels avancés de MVP sont essentiels pour exploiter pleinement la puissance de chaque capteur. Associés aux outils ePro et Validate de MVP, il est désormais possible d’atteindre les niveaux les plus élevés de couverture des défauts avec la dernière suite d’outils d’inspection.

La technologie 3D avancée est véritablement flexible, permettant aux utilisateurs de sélectionner l’utilisation de la 3D pour des types de composants spécifiques ou des désignateurs individuels, tout en maintenant la vitesse traditionnelle d’opération.

MVP a récemment introduit une nouvelle capacité de Défaut Défini par l’Utilisateur (UDD), reliant des modes de défaillance spécifiques à des définitions de défaut personnalisées. Dans les processus qualifiés, l’UDD peut être utilisé pour permettre l’assignation automatique des défauts sans nécessiter l’examen de chaque cas. MVP démontrera cette nouvelle fonctionnalité puissante avec le GEM III.

SPI

Pour les clients intéressés par le SPI, MVP démontrera sa technologie avancée d’inspection de pâte à braser en 3D, avec des outils améliorés de facilité d’utilisation permettant de créer des bases de données robustes d’inspection 3D en quelques minutes.

Traçabilité et archivage d’images

MVP propose également des solutions logicielles qui étendent la puissance de ses technologies AOI pour fournir des options avancées de traçabilité.

MVP démontrera son AutoNetworker, une base de données centralisée capable de se configurer pour un large éventail d’options d’analyse de données. Pour le SMT et la micro-électronique, les données de mesure ainsi que les attributs pass/fail peuvent être stockés pour chaque produit, chaque lot ou ordre de travail, et peuvent être étendus en fonction des besoins du client. Les données peuvent être conservées selon les exigences du client, allant de périodes courtes à une collecte sans limite.

AutoNetworker est un outil précieux conçu pour permettre aux responsables qualité, responsables des opérations et ingénieurs process de générer rapidement des rapports via une interface web accessible depuis n’importe quel emplacement intranet.

Une nouvelle fonctionnalité importante démontrée par MVP est la capacité d’archivage d’images du AutoNetworker. En permettant de sauvegarder chaque image de défaut détectée par plusieurs machines AOI, MVP fournit désormais une solution évolutive d’archivage d’images. Pour les processus critiques où la qualité est essentielle, la possibilité d’offrir une traçabilité visuelle en plus de la traçabilité des données est indispensable. MVP offre désormais cette capacité.

Dynamic Process Control (DPC)

MVP démontrera également son produit Dynamic Process Control (DPC), qui fournit une traçabilité de processus efficace en reliant les défauts d’assemblage à l’équipement source correspondant, permettant une résolution rapide. Le DPC est évolutif avec des options allant de la gestion AOI, la gestion de ligne de production, jusqu’au contrôle complet de l’atelier. Le DPC complet inclut la gestion des matériaux, la gestion WIP, la gestion des feeders et la gestion des configurations parmi de nombreux autres outils disponibles.

Découvrez les applications de micro-électronique de MVP

L’équipe d’experts de MVP sera disponible pour discuter des solutions de la plateforme MVP 850G pour les applications de micro-électronique pendant l’IPC APEX EXPO. La 850G prend en charge la gamme la plus large d’applications micro-électroniques grâce à la boîte à outils avancée de MVP. Avec la résolution et la répétabilité comme facteurs critiques, la 850G peut être configurée à une taille de pixel de 1 µm.

Pour la production électronique hybride, MVP est idéalement positionné pour offrir à la fois des solutions de micro-électronique et de SMT sur la même plateforme 850G.

Pour plus d’informations sur MVP, veuillez visiter www.machinevisionproducts.com ou venez nous voir au stand n°2100 lors de l’IPC APEX EXPO où nous pourrons discuter de vos besoins en inspection.

Contact :

Email : sales@visionpro.com

Téléphone : 1-800-260-4MVP ou +1-760-438-1138

À propos de Machine Vision Products, Inc.

Machine Vision Products est un innovateur du marché et un leader des technologies d’imagerie pour le SMT, la micro-électronique et le packaging. MVP fournit des solutions pour des applications commerciales et militaires. L’entreprise opère mondialement avec des implantations directes aux États-Unis, en Chine, en Malaisie et au Royaume-Uni, ainsi qu’une représentation supplémentaire en Amérique du Nord, en Europe et en Asie.