MVP dévoile ses dernières solutions d’inspection Die/Wire et semi-conducteurs automatisée à SEMICON West 2017
Carlsbad, Californie – 30 juin 2017 : Machine Vision Products (MVP) a annoncé aujourd’hui qu’il présentera son Die Wire Metrology System (DWMS) ainsi que ses solutions d’inspection automatisée pour semi-conducteurs lors de SEMICON West. Ces fonctionnalités sont disponibles sur les plateformes 2020 et 850G. Les applications incluront la métrologie die-wire, l’inspection wire bond, l’inspection de surface et d’obleas. L’événement se tiendra au Moscone Center à San Francisco du 11 au 13 juillet 2017. MVP exposera au stand #7724 dans le West Hall (niveau 1).
Plateformes AOI Micro-Électroniques MVP
Conçues pour une précision et une vitesse élevées, les plateformes 2020 et 850G offrent des résolutions jusqu’à 1 µm pour répondre aux besoins des applications.
Les solutions de manutention incluent magazines, élévateurs/indexeurs, plateaux JEDEC, waffle packs et Auer boats. Solutions inline pour voie simple ou double, strip handling et wafer handling.
MVP 2020 DWMS
Compatible salles blanches jusqu’à Classe 100. Intègre loaders/unloaders et transport par pince. Options disponibles : acier inoxydable, unités de filtration et flux laminaire.
Modulaire, il peut intégrer marquage encre, poinçonnage lead frame et extraction filaire. Selon la densité du lead frame, il dépasse 150 000 UPH.
MVP 850G
Techniques : imagerie télécentrique haute résolution, éclairage quad-color, technologies 3D.
Applications : inspection die et wire bond.
Inline : options voie simple ou double.
Applications AOI Micro-Électroniques MVP
Lead Frame
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Wire bond & die-wire metrology
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Métrologie de placement
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Epoxy spread & bridging
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Intégrité du lead frame
BGA
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Imagerie 2D/3D
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Diamètre, forme, dommages
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Coplanarité & hauteur
Métrologie
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Alignement die
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Surface, FM, bordure
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Flux & pâte
Dice Wafer
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Métrologie die
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Défauts surface & bord
Traçabilité & Archivage d’Images
AutoNetworker : base centralisée, enregistrement d’images, données paramétriques, attributs Pass/Fail.
Archivage complet de défauts multi-AOI.
Rapports via interface web sur tout intranet.
À propos de MVP
MVP développe toutes ses solutions en interne, offrant une structure de coûts optimisée et un support inégalé. Avec plus de 20 ans de leadership, MVP propose le coût total de possession le plus faible.
