MVP présente le nouveau système Carta, offrant des capacités avancées d’inspection et de métrologie pour les fabricants d’obleas, d’obleas découpées et d’obleas bumpées
Vista, Californie — 17 novembre 2025 — Machine Vision Products, Inc. (MVP), leader mondial des solutions d’Inspection Optique Automatisée (AOI), dévoilera sa toute nouvelle innovation, le MVP Carta, lors de Productronica 2025 à Munich, Hall B2, Stand 112.
Le système Carta étend le portefeuille de solutions de MVP pour les semi-conducteurs en introduisant une inspection de nouvelle génération pour les obleas solides, les obleas découpées sur film-frame et les obleas bumpées, jusqu’à 300 mm.
La plateforme Carta est disponible en deux versions.
La configuration semi-automatique est conçue pour les laboratoires R&D, les lignes pilotes et les environnements de développement flexibles, prenant en charge les obleas solides et les film-frames avec un chargement manuel rapide.
La version entièrement automatisée est destinée à la production à haut volume et intègre un module avancé de robotisation et d’alignement pour le chargement automatisé. Des formats supplémentaires de manipulation d’obleas, conformes aux standards de l’industrie, peuvent également être pris en charge, garantissant une intégration fluide dans les flux de travail automatisés en salle blanche.
Au cœur du système Carta se trouve une architecture optique à double caméra, comprenant un microscope haute résolution et une caméra infrarouge (IR) optionnelle pour une détection améliorée des défauts, y compris les anomalies enterrées ou à faible contraste. Associé à la métrologie 3D, à une illumination multimodale et à des algorithmes d’inspection basés sur l’IA, Carta permet l’identification précise de la contamination, de la délamination, des fissures de surface ou de bord, des défauts au niveau du die, des corps étrangers, ainsi que l’inspection optionnelle des bumps pour l’advanced packaging.
« Le MVP Carta représente une nouvelle étape dans notre engagement envers les clients du secteur des semi-conducteurs, qui recherchent un contrôle de processus renforcé et une fiabilité accrue pour l’inspection des obleas et des dies », déclare Dr George Ayoub, Président et CEO de Machine Vision Products.
« Il associe la technologie AOI éprouvée de MVP à une automatisation avancée et à une métrologie de pointe pour répondre aux exigences les plus strictes de l’industrie. »
Le système Carta complète l’offre croissante de plateformes AOI 3D de MVP destinées aux semi-conducteurs, à l’advanced packaging, à la microélectronique et à la fabrication SMT, renforçant ainsi la mission de l’entreprise : Build in Quality for the Technology of Tomorrow.
À propos de Machine Vision Products, Inc.
Machine Vision Products, Inc. (MVP) est un leader mondial des solutions d’Inspection Optique Automatisée destinées aux secteurs des semi-conducteurs, de l’advanced packaging, de la microélectronique et de la fabrication SMT.
Fondée en 1993 et basée à Vista, en Californie, MVP fournit des plateformes d’inspection 2D et 3D haute performance, conçues pour répondre aux exigences les plus strictes en matière de qualité, de précision et de contrôle de processus.
Avec un engagement fort envers l’innovation, le portefeuille technologique de MVP englobe la détection de défauts basée sur l’IA, la métrologie avancée, l’automatisation flexible et une intégration entièrement conforme aux normes SEMI.
MVP accompagne ses clients dans le monde entier grâce à des équipes dédiées en Amérique du Nord, en Europe et en Asie, garantissant les plus hauts niveaux de service, de réactivité et d’expertise applicative.
