MVP stellt das neue Carta-System vor – eine fortschrittliche Inspektions- und Messtechniklösung für Wafer-, Diced-Wafer- und Bump-Wafer-Hersteller
Vista, Kalifornien — 17. November 2025 — Machine Vision Products, Inc. (MVP), ein weltweit führender Anbieter von Lösungen für die automatisierte optische Inspektion (AOI), wird auf der Productronica 2025 in München, Halle B2, Stand 112, seine neueste Innovation vorstellen: das MVP Carta System. Die Carta erweitert MVPs Halbleiterportfolio um die nächste Generation der Inspektion von massiven Wafern, Filmframe-Diced-Wafern und Bump-Wafern bis zu einer Größe von 300 mm.
Die Carta-Plattform ist in zwei Versionen erhältlich. Die halbautomatische Konfiguration richtet sich an F&E-Labore, Pilotlinien und flexible Entwicklungsumgebungen und unterstützt sowohl massive Wafer als auch Filmframes mit schneller manueller Beladung. Die vollautomatische Konfiguration ist für die Hochvolumenfertigung ausgelegt und integriert ein fortschrittliches Robotermodul für automatisiertes Laden und Ausrichten. Weitere industriegängige Wafer-Handling-Formate können ebenfalls unterstützt werden, um eine nahtlose Integration in automatisierte Reinraumprozesse sicherzustellen.
Im Zentrum des Carta-Systems steht eine Dual-Kamera-Optikarchitektur mit einem hochauflösenden Mikroskop sowie einer optionalen Infrarotkamera (IR) für eine erweiterte Defekterkennung, einschließlich verdeckter oder kontrastarmer Anomalien. In Kombination mit 3D-Messtechnik, multimodaler Beleuchtung und KI-gestützten Inspektionsalgorithmen ermöglicht Carta die präzise Identifikation von Kontaminationen, Delaminationen, Kanten- und Oberflächenrissen, Die-Defekten, Fremdmaterial sowie optionaler Bump-Inspektion für Advanced-Packaging-Anwendungen.
„Die MVP Carta stellt den nächsten Schritt in unserem Engagement für Halbleiterkunden dar, die eine strengere Prozesskontrolle und höhere Zuverlässigkeit bei der Wafer- und Die-Inspektion anstreben“, sagte Dr. George Ayoub, Präsident und CEO von Machine Vision Products. „Sie vereint MVPs bewährte AOI-Technologie mit erweiterter Automatisierung und fortschrittlicher Messtechnik, um die anspruchsvollsten Anforderungen der Branche zu erfüllen.“
Die Carta ergänzt MVPs wachsendes Portfolio an 3D-AOI-Plattformen für Halbleiter-, Packaging-, Mikroelektronik- und SMT-Fertigung und stärkt das Unternehmensmotto: Build in Quality for the Technology of Tomorrow.
Über Machine Vision Products, Inc.
Machine Vision Products, Inc. (MVP) ist ein weltweit führender Anbieter von Lösungen für die automatisierte optische Inspektion (AOI) in der Halbleiterfertigung, im Advanced Packaging, in der Mikroelektronik und in der SMT-Produktion. MVP wurde 1993 gegründet und hat seinen Hauptsitz in Vista, Kalifornien. Das Unternehmen liefert leistungsstarke 2D- und 3D-Inspektionsplattformen, die für höchste Anforderungen an Qualität, Präzision und Prozesskontrolle ausgelegt sind.
Mit einem starken Fokus auf Innovation umfasst das Technologieportfolio von MVP KI-gestützte Defekterkennung, fortschrittliche Messtechnik, flexible Automatisierung und vollständige SEMI-konforme Integration. MVP unterstützt Kunden weltweit durch Teams in Nordamerika, Europa und Asien und gewährleistet höchste Servicequalität, schnelle Reaktionszeiten und umfassende Applikationsexpertise.
