MVP 推出全新 Carta 系统，为晶圆、切割晶圆及凸点晶圆制造商提供先进的检测与计量能力

加利福尼亚州维斯塔 — 2025 年 11 月 17 日 —— 作为全球领先的自动光学检测（AOI）解决方案供应商，Machine Vision Products, Inc. (MVP) 将在德国慕尼黑举办的 Productronica 2025 展会上（Hall B2，展位 112）正式发布其最新创新产品 —— MVP Carta。Carta 将 MVP 的半导体产品组合扩展至新一代检测领域，可对 实心晶圆、Film-Frame 切割晶圆以及凸点晶圆（Bumped Wafer） 进行检测，最大支持 300 mm。

Carta 平台提供 两种配置。

半自动版本 专为研发实验室、试产线以及灵活的开发环境设计，支持实心晶圆与 film-frame，并可实现快速手动加载。

全自动版本 面向大批量生产，配置先进的机器人搬运与对位系统，实现自动化加载。平台还可兼容多种行业标准的晶圆搬运格式，确保无缝融入自动化洁净室生产流程。

Carta 系统的核心是一套 双相机光学架构，包括一台高分辨率显微镜与可选的 红外（IR）相机，可增强对隐蔽缺陷或低对比度缺陷的检测能力。结合 3D 计量、多模态照明 与 AI 驱动的检测算法，Carta 能够精准识别 污染、分层、边缘与表面裂纹、Die 缺陷、异物，并可选配 凸点检测（Bump Inspection） 功能，以满足先进封装工艺需求。

“MVP Carta 标志着我们在支持半导体客户提升过程控制和提升晶圆及 Die 检测可靠性方面迈出的重要一步。”

Machine Vision Products 总裁兼首席执行官 George Ayoub 博士 表示，

“它将 MVP 久经验证的 AOI 技术与更高水平的自动化和先进计量能力相结合，以满足行业最严格的要求。”

Carta 与 MVP 日益扩展的 3D AOI 平台（面向半导体、先进封装、微电子及 SMT 制造）完美互补，进一步强化了公司“为明日科技构建质量（Build in Quality for the Technology of Tomorrow）”的使命。

关于 Machine Vision Products, Inc.

Machine Vision Products, Inc.（MVP）是全球领先的自动光学检测（AOI）解决方案供应商，服务于半导体、先进封装、微电子及 SMT 制造行业。公司成立于 1993 年，总部位于加利福尼亚州维斯塔。

MVP 提供高性能的 2D 与 3D 检测平台，满足最高标准的质量、精度与过程控制要求。凭借对技术创新的持续投入，MVP 的产品组合涵盖 AI 缺陷检测、先进计量、灵活自动化 以及 全面符合 SEMI 标准 的集成能力。

MVP 在北美、欧洲与亚洲均设有专业团队，为全球客户提供卓越的技术支持、快速响应与应用服务。