上视式 PTH 波峰焊后与选择性焊接 AOI 自动光学检测系统 – Selecta II

MVP Selecta II AOI 专为配合波峰焊与选择性焊接工艺而设计。通过上视光学系统（Look-Up Optics），Selecta II 可对由底部焊接工艺完成的器件焊点进行检测。

MVP 的 Selecta II 支持对所有波峰焊焊点的完整底部检测，包括 PTH 通孔器件 及通过胶粘工艺固定的 SMT 器件。该系统可用于确保第二面工艺的焊接质量，并配备操作简便的编程软件，实现快速部署与应用。