封装 IC / BGA / 引脚器件单面 AOI 检测与测量平台 – MVP Aura
MVP Aura 平台 将在线封装检测提升至全新高度。其关键特性包括:
顶部表面检测
自动在线托盘上料
自动元件分拣
引脚 / 焊球位置检测
高度与共面度测量
此外,MVP Aura 平台 采用最新的高分辨率 3D 成像技术,为当前最具挑战性的芯片器件与封装形式提供先进的检测与测量能力。
关键特性
- 双技术检测 – 支持 2D 与 3D
- 单面检测
- 全参数检测:高度、位置、计量与共面度测量
- 支持在线 JEDEC 托盘传输
- 不良品分拣至缺陷托盘
- 可更换真空吸嘴,适用于大尺寸与小尺寸封装器件
- 无器件尺寸限制
- 支持不同尺寸器件的独立检测
- 占地面积小
功能能力
- 支持 JEDEC 托盘
- 支持在线或同侧进出料配置
- 支持 SECS/GEM 通信协议
- 支持 XML 映射输出,用于下游自动分拣



