MVP 将在 IPC APEX EXPO 2025 展示 Aurora 平台用于 SMT 与微电子检测

Machine Vision Products, Inc. 将在 IPC Apex Expo 2025 展示最新 Aurora 平台的创新 SMT 与微电子检测能力

美国加州维斯塔 — 2025 年 3 月 17 日 — Machine Vision Products, Inc.（MVP），全球领先的先进成像与检测技术供应商，将于 3 月 18–20 日在加利福尼亚州阿纳海姆举行的 IPC Apex Expo（展位 1342）展示其最新检测平台。

Machine Vision Products（MVP）将重点展示其最新的 SMT 和微电子解决方案，包括全新的 Aurora 自动光学检测（AOI）系统。MVP 将发布其最新的软件版本，集成基于计量学的算法，进一步提升缺陷检测能力并提高生产良率。此外，MVP 还将展示最新的 AI 工具与深度学习集成，这些功能现已全面支持所有检测平台。作为全球检测解决方案的领导者，MVP 持续推动技术发展和创新。

Aurora 平台在 APEX 2025 的亮相

MVP 将在 APEX 2025 展示 Aurora 系统，该系统具备完整的双面 AOI 检测能力，适用于包装、SMT 与微电子等多种应用，包括：

• 双面 SMT 组装

• BGA（球栅阵列）

• PLCC（塑封引脚芯片载体）

Aurora 采用最新的计量学算法与深度学习技术，可显著提升缺陷检测精度与生产效率，为自动光学检测树立全新的精准度、效率与灵活性标准。其双面检测设计支持多种元件类型，包括双面 SMT、BGA、PLCC、CSP、WLP、QFN、BCC、LGA 等。

凭借 30 多年的 AOI 创新经验，Aurora 结合高分辨率的远心光学用于上视检测，以及无阴影 3D 技术用于下视检测，可实现精确的共面度与位置测量。在封装应用中，Aurora 的 Pick-Inspect-Sort 工作流程能够有效提升效率，仅保留完全合格的器件，同时自动剔除不良组件。

AI 工具：树立检测性能的新标杆

基于多年的自动学习软件经验，MVP 正式推出新一代 AI 集成技术。随着大量 AI 工具在平台上的应用，MVP 实现了前所未有的检测性能和易用性，即使面对最复杂的应用场景也能够轻松应对。

此外，MVP 还提供开放式平台，可无缝集成第三方深度学习与 AI 工具，为用户带来最大灵活性。

先进的可追溯性解决方案

通过整合进口、出口与图像数据，MVP 提供先进的可追溯性管理。AutoData SQL 集成支持实时数据跟踪，并提供可选的图像存储功能，以增强缺陷分析和质量控制。MVP 各平台符合工业 4.0 要求，并支持 SECS/GEM、SEMI E142、ELSR（批次结束汇总报告）等多项标准模块。

关于 Machine Vision Products, Inc.

Machine Vision Products, Inc. 是微电子、混合集成、封装与表面贴装技术（SMT）领域的领先成像与检测解决方案供应商。MVP 为商业和军用应用提供尖端检测技术，并在美国、中国、马来西亚和英国设有运营机构，在北美、欧洲和亚洲拥有广泛的代理网络。