MVP 在 IPC-Apex Expo 2015 展示 3D AOI 与先进检测软件

Carlsbad，加利福尼亚州 – 2015年2月20日：Machine Vision Products（MVP），自动光学检测（AOI）领域的领导者，将于2月24日至26日在圣地亚哥会议中心举行的 IPC APEX EXPO 2015 上展示其 3D AOI 技术和先进软件产品。MVP 展位号为 427。

MVP 是公认的 AOI 技术领先企业，为 SMT、微电子和封装行业提供先进的检测解决方案。MVP 继续在其位于加利福尼亚州 Carlsbad 的总部进行创新设计、开发和制造。所有 MVP 系统均在美国制造。

MVP 持续推出先进的 AOI 技术，本次 IPC APEX EXPO 2015 将展示其最新的 3D AOI 和先进软件解决方案。

3D AOI

MVP 的 3D AOI 方法结合 2D 与 3D 检测技术，实现高速、高覆盖率的复杂缺陷检测。MVP 的先进软件工具是充分发挥每种传感器优势的关键。通过 ePro 和 Validate 软件，用户可实现最高水平的缺陷覆盖能力。

基于 Supra 平台的 Supra 3D 是 MVP 的先进 3D AOI 系统，能够增强对回流后翘脚缺陷及其他复杂工艺问题的检测，检测精度可达 01005 器件。

新一代 3D 技术具有极高灵活性，用户可选择只对特定元件类型或特定位置执行 3D 检测，同时保持高速检测性能。

MVP 近期推出“用户自定义缺陷”（UDD）功能，可以将特定失效模式与用户自定义缺陷类别关联。在已验证的工艺中，UDD 可用于自动缺陷分类，无需逐一人工检查。Supra 3D 将现场展示该功能。

SPI 与 2D AOI

MVP 还将展示入门级 2D AOI 系统 Supra E，具有高性能和最低总体成本。其 10µm 像素分辨率可实现认证的 01005 焊点检测能力。

对于对 SPI 感兴趣的客户，MVP 将展示其高级焊膏检测技术，可快速创建稳健的 3D SPI 检测数据库。

可追溯性与图像归档

MVP 还提供扩展 AOI 功能的软件工具，包括先进的追溯系统。

MVP 将演示 AutoNetworker —— 一个可配置的集中式数据库，可用于 SMT 和微电子制造中的数据挖掘。可存储每个产品、每个批次的测量值和判定结果，数据保留可按客户需求灵活设置。

其重要新功能是图像归档：AutoNetworker 可保存来自多个 AOI 系统的每一张缺陷图像。对于质量关键工艺，视觉与数据追溯都是至关重要的，MVP 完全实现了这一能力。

MVP 还将演示 Dynamic Process Control（DPC）系统，可通过将缺陷快速关联至设备源头来实现有效的工艺控制。DPC 可从 AOI 管理扩展到整条生产线乃至整个工厂的全面管理。

微电子应用演示

IPC APEX EXPO 期间，MVP 团队将介绍基于 MVP 850G 平台的微电子应用解决方案。850G 平台支持最广泛的微电子检测任务，并可配置至 1µm 分辨率，确保高精度和高重复性。

对于混装电子制造，MVP 能够使用同一 850G 平台同时处理 SMT 和微电子检测，是行业中独特的解决方案。

如需更多信息，请访问 www.machinevisionproducts.com 或前往 展位 427。

联系方式：

Email: sales@visionpro.com

电话: 1-800-260-4MVP 或 +1-760-438-1138

关于 Machine Vision Products, Inc.：

MVP 是表面贴装技术（SMT）、微电子和封装检测领域的全球创新企业，为商业和军事应用提供解决方案。公司在美国、中国、马来西亚和英国设有运营机构，并在全球范围内设有代表处。