MVP 将在 2012 SMTA International 展示 GEM Compact、便捷编程工具及 DPC-Lite

Carlsbad, CA – 2012年10月12日：Machine Vision Products（MVP），自动光学检测（AOI）行业的领导者，将在佛罗里达州奥兰多市的 Walt Disney World Dolphin Hotel 举办的 SMTA International 展会上展示其 GEM Compact 台式 AOI 系统，展会时间为10月16日至17日。作为AOI领域在价格与性能上的领导者，MVP 在过去19年的行业服务中展示了其系统的高度适应性。MVP 将在 423 号展位展出。

该系统能够检测 M 尺寸电路板，并采用 MVP 最新的易用软件，具备独特的验证和优化功能。此外，MVP 软件提供自动数据库生成选项，可从多种输入源创建数据库，无需任何第三方数据转换工具。

GEM Compact 还配置了 MVP 最新的 5.4 软件版本，包含端到端的易用工具，用于快速数据库编程、独特的性能验证向导以及直观的 iRepair 软件。

MVP 同时展示 DPC Lite，这是一款新产品，可实现快速 AOI 性能调校以及质量报告数据的关联，使用户能够从第一块检测的 PCB 开始就获得 AOI 设备的最佳性能。

MVP 在工业、商业、汽车、医疗及国防等领域的一系列应用中拥有成功的业绩记录，并持续为 SMT、微电子和封装行业提供高性能、备受认可的 AOI 解决方案。

MVP 通过内部创新、产品开发和制造继续引领全球检测领域。这为最终用户带来了更具优势的成本结构。凭借19年的行业领导地位，MVP 持续采取措施，提供最高性能和全球最低的总体拥有成本。

如需了解更多信息，请访问 www.machinevisionproducts.com 或前往 SMTA International 2012 的423号展位与我们讨论您的应用需求。

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