MVP 在 IPC APEX Expo 2016 展示多种 AOI 传感器技术和先进软件
加利福尼亚州卡尔斯巴德 – 2016 年 3 月 11 日。 Machine Vision Products（MVP），作为自动光学检测（AOI）行业的领导者，将于 2015 年 IPC APEX EXPO 上展示便携式 AOI、3D AOI 以及先进的软件产品。展会将在 3 月 15 日至 17 日于拉斯维加斯会展中心举行。MVP 将在 #2100 展位 展出。
MVP 是 AOI 技术领域的公认领导者，向 SMT、微电子和封装客户提供广泛的先进解决方案。MVP 继续在其位于加州 Carlsbad 的公司总部开展创新设计、研发和制造操作。所有 MVP 系统均在美国制造。
MVP 不断推出先进的 AOI 解决方案，而 2015 年 IPC APEX EXPO 将展示 MVP 最新的便携式 AOI、3D AOI 以及先进的软件技术。
多传感器技术
MVP 将展示其在 SMT 和微电子 AOI 产品系列中的真正灵活性。所有 MVP AOI 解决方案都能够根据客户的检测需求支持多种不同类型的传感器技术。
在 2016 年 IPC Apex 展会上，MVP AOI 将展示能够执行 01005 检测的 12MP AOI 相机；用于复杂器件检测的 3D AOI 技术；以及用于焊膏检测的 3D 激光技术。所有 MVP 的传感器分辨率均可从 10 µm 扩展至 1 µm，以适应 SMT 和微电子应用。
12MP AOI
MVP 将在 IPC APEX 上展示其高速 12MP AOI 检测能力。凭借卓越的帧率，12MP 技术提供 10 µm 的像素分辨率，并已通过 01005 检测认证。
MVP 的 SMT 解决方案以高性能和高速能力著称。随着新一代高分辨率彩色相机的引入，MVP 进一步增强了其产品线，实现更高速的检测性能，同时保持强大的缺陷检测能力，并将误报率降至最低。
GEM III 发布
GEM III AOI 是一款功能丰富、坚固可靠且便携的 AOI 平台，基于 Machine Vision Products 现有的高性能 AOI 解决方案。GEM III 配备 8MP 相机，并已通过具有 8 µm 像素大小的 01005 检测认证。
GEM III 具备 MVP 的 ePro 数据库编程向导以及 Auto-Optimize 自动优化向导，是低产量、高混合生产环境（包括新产品导入）的一种高性价比且强大的解决方案。通过使用与 Inline 系统相同的光学配置，新创建的检测程序可在 GEM III 与 MVP Inline 系统之间完全互换。
3D AOI
MVP 将在 IPC APEX 2016 上展示配置在便携式 GEM III 平台上的 3D AOI。
MVP 对 3D AOI 的方法结合了 2D 和 3D AOI 技术，既保证高速检测，又能在复杂缺陷上实现卓越覆盖率。MVP 的先进软件工具是发挥每个传感器性能的关键。结合 MVP 的 ePro 和 Validate 易用性软件工具，用户现在可以通过 MVP 最新检测工具套件实现最高级别的缺陷覆盖。
先进的 3D 技术具有真正的灵活性，使用户能够针对特定组件类型或单个参考设计符号选择性地使用 3D，同时保持传统的高速检测能力。
MVP 最近推出了新的 用户自定义缺陷（UDD） 功能，将特定的故障模式与自定义缺陷定义关联。在经过认证的工艺中，UDD 可用于自动缺陷分类，而无需人工逐一审核。MVP 将在 GEM III 上展示这一强大的新功能。
SPI 焊膏检测
对于对 SPI 感兴趣的客户，MVP 将展示其先进的 3D 焊膏检测技术，并配备增强的易用性工具，使用户能够在几分钟内创建稳健的 3D SPI 检测数据库。
追溯产品与图像归档
MVP 还提供软件解决方案，以扩展其 AOI 技术的能力，为客户提供高级追溯选项。
MVP 将展示其 AutoNetworker，这是一种集中式数据库，可灵活配置用于多种数据挖掘需求。对于 SMT 和微电子，测量数据和合格/不合格属性都可以针对每个产品、每个批次或工单存储，并可根据客户需求进行扩展。数据可根据客户要求保留短期或长期。
AutoNetworker 是一个有价值的工具，使质量经理、运营经理和工艺工程师能够通过基于 Web 的界面快速生成报告，可从任何内部网络位置访问。
MVP 展示的一项重要新功能是 AutoNetworker 的 图像归档能力。该功能允许保存由多个 AOI 系统检测到的每一张缺陷图像，为质量关键过程提供可扩展的图像归档解决方案。对于高要求的质量流程，同时提供视觉追溯和数据追溯能力至关重要。MVP 现在提供此能力。
Dynamic Process Control (DPC)
MVP 还将展示其 Dynamic Process Control（动态过程控制，DPC） 产品，可通过将装配缺陷与相应来源设备关联，实现有效的过程追溯，从而快速解决问题。DPC 可扩展，自 AOI 管理到整条生产线管理，再到完整的工厂车间控制。完整的 DPC 系统包括物料管理、WIP 管理、送料器管理和设置管理等功能。
探索 MVP 的微电子应用
在 IPC APEX EXPO 期间，MVP 专家团队将展示适用于微电子应用的 MVP 850G 平台 解决方案。由于具备 MVP 的高级工具箱，850G 支持最广泛的微电子检测应用。以分辨率和重复性为关键因素，850G 可以配置到 1 µm 像素大小。
对于混合电子生产，MVP 能够在同一 850G 平台上提供微电子和 SMT 的检测解决方案，这使其具有独特优势。
如需了解有关 MVP 的更多信息，请访问 www.machinevisionproducts.com 或前往 IPC APEX EXPO 的 #2100 展位 与我们讨论您的检测需求。
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