MVP 将于 2012 年 NEPCON China 展示 Supra E AOI 与微电子检测能力

Carlsbad，加利福尼亚州 — 2012年4月20日：Machine Vision Products（MVP），作为自动光学检测（AOI）领域的领先企业，将于4月25日至27日在上海举行的 Nepcon China 展会上展示其最新的 Supra E 和 Ultra 850G 微电子 AOI 系统。作为性价比领先的 AOI 供应商，MVP 在其服务行业的18年间展现出高度的系统适应能力。MVP 将在展位 1C65 参展。

屡获大奖的 Supra E AOI 为客户提供业内最佳的性价比。该系统可检测尺寸为 508 × 508 毫米的电路板，采用 MVP 最新的易用软件，并支持从多种数据源自动生成数据库，无需第三方数据转换工具。与所有 MVP 面向 SMT 的在线 AOI 系统一样，Supra E 标配 10 微米真实像素分辨率，可检测最小至 01005 的元件并执行完整的焊点检测。此外，MVP 支持在严苛计量应用中表现卓越的亚像素算法。

为满足线键合、BGA、封装、芯片与凸点检测的需求，MVP 还将展示其 Ultra 850G 解决方案。在线键合检测中，系统分辨率最高可达 1 微米，可检测最细的金线。用于封装检测时，Ultra 850G 无需 CAD 数据输入，MVP 新的易用向导可在数分钟内完成各种 BGA 布局的编程。BGA 应用可执行完整 AOI 检测，包括焊球计量、焊球高度、偏移、存在性及基板表面质量检测。其他检测功能还包括 DIE/基板对准、表面检测、键合检测和环氧检测。

Machine Vision Products 总裁兼首席执行官 George T. Ayoub 博士表示：“我们期待在 Nepcon China 2012 展会上展示最广泛的应用范围。我相信 MVP 拥有业内最全面的应用工具集。MVP 在提供高性能和灵活性的同时，始终坚持易用性的 AOI 系统。我们最近发布了多款新产品，并期待在中国地区与新老客户交流需求。”

MVP 通过内部创新、产品开发和制造继续引领全球检测市场，为终端用户提供了更具优势的成本结构。凭借19年的行业领导力，MVP 持续采取措施，确保其系统性能全球领先，同时提供最低的总体拥有成本。

如需了解更多信息，请访问 www.machinevisionproducts.com 或前往展位 1C65 与我们讨论您的应用需求。

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关于 Machine Vision Products, Inc.

Machine Vision Products 是表面贴装、微电子和封装技术领域的成像技术创新者和行业领导者。MVP 为商业和军用应用提供解决方案，并在美国、中国、马来西亚和英国设有直属运营机构，同时在北美、欧洲和亚洲拥有广泛代表。