MVP 推出新一代 AOI 平台 Aurora,用于 SMT 与微电子检测

推出全新的检测平台:MVP Aurora

MVP Aurora 为封装 IC、BGA 及引脚器件提供自动化检测与计量功能。

Machine Vision Products, Inc.(MVP),先进成像技术的行业先锋,荣幸推出最新检测平台——MVP Aurora。该系统面向封装集成电路(IC)、球栅阵列(BGA)及引脚器件,提供自动光学检测与计量功能。

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来自 Machine Vision Products 的 MVP Aurora 自动光学检测(AOI)系统

性能

凭借超过 30 年的 AOI(自动光学检测)创新经验,MVP Aurora 系统通过双技术架构实现卓越检测性能。对于器件上方的封装检测,系统采用高分辨率远心光学,可精准测量器件尺寸、检查标记并分析表面状况。对于器件底部的球与引脚,MVP 的无阴影 3D 技术确保精确的共面度与位置测量。

MVP Aurora 采用最小占地设计,并基于 Pick-Inspect-Sort(取件–检测–分类)方法实现多面封装检测。检测完成后,不良件进入不良盘,良品返回原托盘,确保最终输出的托盘仅包含完全合格器件。

MVP Aurora 在以下多种封装类型中表现卓越:BGA、QFP、TQFP、CSP、WLP、QFN、BCC、LGA 等,是 OQC 与 IQC 的理想解决方案。

MVP 在其 9.0 软件中的最新用户界面

软件

MVP 的 ePro 软件支持快速高效的检测程序开发,引导用户完成检测策略的创建。为加快流程,可导入 CAD、Gerber 或 DXF 数据。iPro 软件使用先进算法以高精度执行全部检测任务。

缺陷示例可追溯性

MVP Aurora 支持 SECS/GEM 与 SEMI E142 mapping,并提供 End Lot Summary Reports(ELSR)用于导出托盘数据。此外,MVP 的 AutoData SQL 系统可保存所有参数及属性数据,并可按器件单独存储图像,增强可追溯性与质量管理。

关于 Machine Vision Products, Inc.

Machine Vision Products, Inc. 是微电子、混合集成、封装及 SMT(表面贴装技术)检测领域的成像技术创新者与领先供应商。MVP 为商业及军用客户提供先进检测解决方案,在美国、中国、马来西亚、英国设有运营基地,并在北美、欧洲及亚洲拥有广泛代理网络。