BGA- und Sensorinspektion im Tray – MVP 900 T/TS
Das MVP 900 T wurde speziell für die Tray-Inspektion von Komponenten wie BGA, Sensoren und anderen Gehäusetypen entwickelt. Unterstützte Tray-Optionen sind JEDEC, Waffle Pack und Auer Boat.
Das optionale TS-Modell bietet zusätzliche Möglichkeiten zur Fehlerhandhabung, indem es fehlerhafte Teile nach Abschluss des Inspektionszyklus in ein separates Tray sortiert.
Die 900 T/TS-Konfiguration bietet eine Vielzahl fortschrittlicher optischer und Handhabungsoptionen, darunter 3D-Laser-Profiler, hochauflösende Bildgebung und vierfarbige Beleuchtung, um maximale Defekterkennungs- und Messfähigkeiten für die Tray-Inspektion von BGAs, Sensoren und Gehäusen bereitzustellen.



Hauptmerkmale (BGA)
- 2D- und 3D-fähig
- Kugelhöhe – bezogen auf das Substrat
- Koplanarität
- Versatz und Position
- Durchmesser
- Beschädigung
- Form
- Kante und Oberfläche
- Gehäusemetrologie
Hauptmerkmale (Sensoren)
- Gehäuseabmessungen
- Fremdmaterial / Verunreinigungen
- Verunreinigung
- Kratzer / Risse
Optionen
- JEDEC-Tray
- Waffle Pack
- Einseitiger Ein-/Auslader
- Handhabung vom Einlader zum Auslader
- SECS/GEM
- XML-Map-Ausgabe für nachgelagerte Sortierung
- Tintenmarkierung für Defektpositionen