BGA- und Sensorinspektion im Tray – MVP 900 T/TS

Das MVP 900 T wurde speziell für die Tray-Inspektion von Komponenten wie BGA, Sensoren und anderen Gehäusetypen entwickelt. Unterstützte Tray-Optionen sind JEDEC, Waffle Pack und Auer Boat.
Das optionale TS-Modell bietet zusätzliche Möglichkeiten zur Fehlerhandhabung, indem es fehlerhafte Teile nach Abschluss des Inspektionszyklus in ein separates Tray sortiert.

Die 900 T/TS-Konfiguration bietet eine Vielzahl fortschrittlicher optischer und Handhabungsoptionen, darunter 3D-Laser-Profiler, hochauflösende Bildgebung und vierfarbige Beleuchtung, um maximale Defekterkennungs- und Messfähigkeiten für die Tray-Inspektion von BGAs, Sensoren und Gehäusen bereitzustellen.

Hauptmerkmale (BGA)

  • 2D- und 3D-fähig
  • Kugelhöhe – bezogen auf das Substrat
  • Koplanarität
  • Versatz und Position
  • Durchmesser
  • Beschädigung
  • Form
  • Kante und Oberfläche
  • Gehäusemetrologie

Hauptmerkmale (Sensoren)

  • Gehäuseabmessungen
  • Fremdmaterial / Verunreinigungen
  • Verunreinigung
  • Kratzer / Risse

Optionen

  • JEDEC-Tray
  • Waffle Pack
  • Einseitiger Ein-/Auslader
  • Handhabung vom Einlader zum Auslader
  • SECS/GEM
  • XML-Map-Ausgabe für nachgelagerte Sortierung
  • Tintenmarkierung für Defektpositionen