芯片与线焊 AOI 检测系统 – MVP 900 DWMS
MVP 900 系列 是一款模块化 AOI 检测平台,提供多种先进的光学与物料传输解决方案,包括 3D 技术、高分辨率成像以及四色照明系统。其相机与光学配置可扩展至 亚微米级分辨率(低于 1 微米)。
以 质量(Quality)、测量(Metrology)与自动化(Automation) 为核心,900 系列为半导体、微电子及高可靠性电子制造行业提供自动化检测与测量解决方案。
MVP 900 DWMS(Die & Wire Metrology System) 是一款专用于引线框架(Lead Frame)芯片与线焊检测的专业解决方案。
MVP 的专有算法支持对各类微电子器件进行高精度检测与测量,其中自动化能力是 900 系列高度灵活性的关键所在。



核心功能
- 三段式输送系统
- 双向上料 / 下料设计
- 支持条带、引线框架、Auer 托架、J-Boat 载具及托盘
- 芯片贴装位置测量(Die Placement Metrology)
- 芯片表面及边缘裂纹检测
- 环氧胶扩散与流动测量
- Au、Al、Ag、Cu 键合线检测,分辨率达 1 微米
- 楔形焊、球形焊及缝合焊点检测
- 新月形焊点与胶带焊接检测
- SMT 元器件检测
可选配置
- 高分辨率激光测量轮廓仪
- 12MP 或 25MP 相机
- AutoWidth 自动宽度测量功能
- 真空系统支持
- 支持 SECS/GEM 接口
- 支持 XML 映射输出,用于下游分拣
- 光学检测头集成喷墨标记功能,用于缺陷位置标记