芯片与线焊 AOI 检测系统 – MVP 900 DWMS

MVP 900 系列 是一款模块化 AOI 检测平台,提供多种先进的光学与物料传输解决方案,包括 3D 技术、高分辨率成像以及四色照明系统。其相机与光学配置可扩展至 亚微米级分辨率(低于 1 微米)

质量(Quality)、测量(Metrology)与自动化(Automation) 为核心,900 系列为半导体、微电子及高可靠性电子制造行业提供自动化检测与测量解决方案。

MVP 900 DWMS(Die & Wire Metrology System) 是一款专用于引线框架(Lead Frame)芯片与线焊检测的专业解决方案。

MVP 的专有算法支持对各类微电子器件进行高精度检测与测量,其中自动化能力是 900 系列高度灵活性的关键所在。

核心功能

  • 三段式输送系统
  • 双向上料 / 下料设计
  • 支持条带、引线框架、Auer 托架、J-Boat 载具及托盘
  • 芯片贴装位置测量(Die Placement Metrology)
  • 芯片表面及边缘裂纹检测
  • 环氧胶扩散与流动测量
  • Au、Al、Ag、Cu 键合线检测,分辨率达 1 微米
  • 楔形焊、球形焊及缝合焊点检测
  • 新月形焊点与胶带焊接检测
  • SMT 元器件检测

可选配置

  • 高分辨率激光测量轮廓仪
  • 12MP 或 25MP 相机
  • AutoWidth 自动宽度测量功能
  • 真空系统支持
  • 支持 SECS/GEM 接口
  • 支持 XML 映射输出,用于下游分拣
  • 光学检测头集成喷墨标记功能,用于缺陷位置标记