100–300mm 晶圆 AOI 检测系统 – MVP 900 W/ALW

MVP 900 系列晶圆检测系统 提供两种配置方案。ALW 版本 支持全自动化工作模式,集成单臂机械手与预对准装置(Pre-Aligner),支持 100 mm 至 300 mm 晶圆尺寸。900 W 版本 为低成本手动上料配置,采用同侧上料与下料设计。

900 W / ALW 系统配置高分辨率光学组件和定制照明系统,作为其专有高性能算法的基础,可有效检测以下缺陷:

      • 污染 / 变色

      • 分层(Delamination)

      • 异物 / 杂质

      • 划伤 / 裂纹

关键特性

  • 支持 2D 与 3D 检测
  • 支持 100、150、200 和 300 mm 晶圆
  • 光学分辨率范围:0.35 µm 至 > 3.4 µm
  • 表面缺陷检测
  • 凸点(Bump)检测:25 µm 至 500 µm
  • 多光谱照明系统
  • 实时工艺监控

选项

  • 高分辨率激光轮廓测量
  • 支持手动上料
  • 支持自动上料
  • 支持第三方 SMIF、FOUP 机械手接口
  • 真空系统支持
  • 支持 SECS/GEM 通信
  • 支持 XML 映射输出,用于下游分拣
  • 支持缺陷位置喷墨标记