100–300mm 晶圆 AOI 检测系统 – MVP 900 W/ALW
MVP 900 系列晶圆检测系统 提供两种配置方案。ALW 版本 支持全自动化工作模式,集成单臂机械手与预对准装置(Pre-Aligner),支持 100 mm 至 300 mm 晶圆尺寸。900 W 版本 为低成本手动上料配置,采用同侧上料与下料设计。
900 W / ALW 系统配置高分辨率光学组件和定制照明系统,作为其专有高性能算法的基础,可有效检测以下缺陷:
污染 / 变色
分层(Delamination)
异物 / 杂质
划伤 / 裂纹




关键特性
- 支持 2D 与 3D 检测
- 支持 100、150、200 和 300 mm 晶圆
- 光学分辨率范围:0.35 µm 至 > 3.4 µm
- 表面缺陷检测
- 凸点(Bump)检测:25 µm 至 500 µm
- 多光谱照明系统
- 实时工艺监控
选项
- 高分辨率激光轮廓测量
- 支持手动上料
- 支持自动上料
- 支持第三方 SMIF、FOUP 机械手接口
- 真空系统支持
- 支持 SECS/GEM 通信
- 支持 XML 映射输出,用于下游分拣
- 支持缺陷位置喷墨标记