MVP Carta – Inspection optique automatisée et métrologie flexibles pour wafers, wafers découpés et au-delà
La série MVP Carta est une plateforme d’inspection optique automatisée (AOI) et de métrologie hautement flexible, conçue pour répondre aux exigences en constante évolution des fabricants de semi-conducteurs, de microélectronique et de packaging avancé. Grâce à son encombrement compact et à une polyvalence inégalée, Carta est le premier système à combiner une flexibilité complète d’inspection des wafers avec la prise en charge de plusieurs formats de produits au sein d’une seule plateforme.
Carta permet l’inspection et la mesure de wafers complets, de wafers découpés sur cadres film, de produits en plateaux ainsi que d’assemblages hybrides, le tout dans un même système. Cette flexibilité réduit les besoins en investissements d’équipements tout en augmentant les capacités d’inspection sur une large gamme de types de produits.
Pourquoi choisir MVP Carta ?
✔ Inspectez des wafers, des wafers découpés, des plateaux et des assemblages hybrides dans un seul système
✔ Combinez l’AOI et la métrologie sur une plateforme unique
✔ Réduisez la complexité des équipements grâce à un encombrement compact
✔ Faites évoluer les capacités d’inspection au rythme de l’évolution des produits
✔ Basé sur l’infrastructure éprouvée d’inspection et de données de MVP
Capacités avancées d’inspection et de métrologies:
Configurations flexibles d’optique et d’imagerie:
Logiciel intelligent et intégration des données:
