MVP Carta – 面向晶圆、切割晶圆及更多应用的灵活自动光学检测（AOI）与计量解决方案

MVP Carta 系列是一款高度灵活的自动光学检测（AOI）与计量平台，专为满足半导体、微电子及先进封装制造商不断变化的需求而设计。凭借紧凑的系统占地和无可匹敌的灵活性，Carta 成为首个在单一平台上同时实现全面晶圆检测灵活性并支持多种产品形式的系统。

Carta 可在同一系统内完成对整片晶圆、薄膜框架上的切割晶圆、托盘式产品以及混合组件的检测与测量。这种高度灵活的设计不仅降低了资本设备投入需求，还显著提升了跨多种产品类型的检测能力。